Теперь ученые могут лучше исследовать структуру и поведение наночастиц. И все благодаря новой работе, проведенной международной группой ученых из Калифорнийского университета в Дэвисе и Национальной лаборатории Лоуренса Беркли, результаты которой опубликованы в издании Nature Materials.

Новая технология позволит производить более детальное исследование новых типов материалов, предназначенных для использования в электронике, энергетике, химии и других областях.

Технология под названием фотоэмиссия с разрешением по углу используется с 1970-х для изучения различных свойств материалов, включая полупроводимость, сверхпроводимость и магнетизм. При этом исследование производится на глубину не больше нанометра. Этот предел имеет место вследствие мощного неупругого рассеивания испускаемых электронов.

В прорывной работе ученые применили источник рентгеновских лучей высокой интенсивности, что позволило изучать материалы намного глубже, снижая влияние поверхностных эффектов.

Технология основана на фотоэлектрическом эффекте, описанном Эйнштейном в 1905 году. Когда фотон выстреливает в материал, он выбивает электрон. Измерив угол, энергию и, возможно, спин электрона, ученые могут лучше изучить движение частиц и их связи в материале.