Нанотрубки будут использваться в обнаружении дефектов материалов

Брайан Л. Вардл (Brian L. Wardle), профессор аэронавтики и астронавтики в Массачусетском технологическом институте, вместе с коллегами разработали технологию позволяющую использовать нанотрубки для обнаружения внутренних дефектов композитных материалов.

Технологии производства и использования углеродных нанотрубок не является новыми, но они почти не нашли еще широкого практического применения нигде, кроме как в научных лабораториях. Углеродные нанотрубки состоят из графена – однослойного графита, свернутого в трубку. Диаметр таких трубок не превышает нескольких десятков нанометров, длина же их несколько сантиметров. Благодаря такой структуре нанотрубки имеют большую удельную проводимость, что дает возможность использовать их в качестве проводников электрического тока.

Брайан Л. Вардл (Brian L. Wardle), профессор аэронавтики и астронавтики в Массачусетском технологическом институте, вместе с коллегами разработали технологию позволяющую использовать нанотрубки для обнаружения внутренних дефектов композитных материалов. Принцип работы устройства заключается в создании тонкого луча направленной энергии для нагревания исследуемой поверхности из материала, содержащего в своем составе углеродные нанотрубки, с последующим включением термографической камеры для отслеживания изменений температуры материала. Такое точечное нагревание позволяет исследовать поверхность быстрее, так как нет необходимости нагревать весь объект.

Таким образом, производство нанотрубок наконец будет иметь практическое применение. В данное время ВВС и ВМФ США проявляет сильный интерес к данной технологии и разработанным устройствам. С их помощью можно более быстро и более качественно производить диагностику и дефектоскопию состояния конструкций, поверхностей летательных аппаратов и морских судов, вовремя обнаруживая даже микроскопические повреждения, невозможные для обнаружения другими способами.

Пожалуйста, оцените статью:
Ваша оценка: None Средняя: 5 (2 votes)
Источник(и):

1. IEEE Spectrum

2. DailyTechInfo