Вышел новый № 1(7) 2012 г. журнала «Наноинженерия»

Уважаемые читатели!

Вышел новый № 1(7), 2012 г. журнала «Наноинженерия», в котором опубликованы научные статьи и обзоры по рубрикам «Технологические процессы в наноинженерии», «Наноинженерия в приборостроении», «Аналитическое оборудование и метрология в наноинженерии». Кроме того в новом номере представлен указатель всех статей, опубликованных в нашем журнале за 2011 г.

Содержание:

• Фёдоров И.Б.

  Поздравление с Новым 2012 Годом

ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В НАНОИНЖЕНЕРИИ

• Моисеев К.М., Янович С.В., Панфилов Ю.В.

  Модификация поверхности синтетической опаловой матрицы вакуумными методами

• Филатов А.Ю., Филатов Ю.Д., Руденко М.А., Ковалев С.В.

  Повышение качества полированных прецизионных поверхностей оптических деталей из стекла

НАНОИНЖЕНЕРИЯ В ПРИБОРОСТРОЕНИИ

• Астахов М.В., Панфилов Ю.В., Селезнев В.В., Михалёв П.А., Литвак Ю.Н., Макеев М.О.

  Сцинтилляционные свойства наноструктурных материалов для композиционных детекторов ионизирующих излучений

• Бульенков Н.А., Желиговская Е.А.

  Обобщение модели структуры области локальной упорядоченности в аморфных алмазоподобных телах на случай аморфных атомных полупроводников типа (8 – N)

• Горелик В.С.

  Конверсионное отражение света от поверхности глобулярных фотонных кристаллов с люминесцирующими центрами

• Ковалев А.А., Тищенко Л.А., Потловский К.Г.

  Диагностика полупроводниковых наноразмерных гетероструктур предназначенных для создания устройств спиновой электроники

• Шашурин В.Д., Ветрова Н.А., Иванов Ю.А.

  Исследования закономерностей формирования постепенных отказов СВЧ-смесителей радиосигналов нового поколения на резонансно-туннельных нанодиодах

АНАЛИТИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ И МЕТРОЛОГИЯ В НАНОИНЖЕНЕРИИ

• Колеров А.Н., Онищенко Д.В.

  Зонды для сканирующего лазерного микроскопа ближнего поля

• Кряжев А.А.

  Исследование физических и геометрических свойств поверхности кристаллов методом рентгеновской рефлектометрии

Указатель статей, опубликованных в 2011 г.