Дорогие читатели, Нашему шестнадцатилетнему, волонтёрскому и некоммерческому проекту для создания новой, современной версии N-N-N.ru, очень нужно посоветоваться касательно платформы нашего сайта – SYMFONY & DRUPAL 8. Платформа не простая, но обещаем – мы не займём много времени, просто нужна консультационная поддержка квалифицированного разраба. Если вы можете помочь, то связаться с нами можно на страницах Facebook.com здесь и здесь.

V международный симпозиум по оптронике (оптоэлектронике) в области обороны и безопасности «OPTRO 2012»

Специалисты компании «Баспик» приняли участие в V международном симпозиуме по оптронике (оптоэлектронике) в области обороны и безопасности «OPTRO 2012».

Пятый Международный симпозиум по оптронике в области обороны и безопасности «OPTRO 2012» прошел в Париже и был организован «Ассоциацией аэронавтики и астронавтики Франции» (Association Ae'ronautique et Astronautique de France), при поддержке OECD (Организации экономического сотрудничества и развития).

Симпозиум считается одним из самых важных событий для инженеров и исследователей, действующих в области оптроники. Важность этой конференции подчеркивается участием высокопоставленных ораторов разных стран из среды институтов, оборонно-промышленного комплекса и стратегических аналитических центров.

В дни симпозиума заседания были организованы в виде трех параллельных сессий, которые охватывали следующие темы:

  • Изображения и системы
  • Космос
  • Лазерные датчики и системы
  • Датчики и комплектующие
  • Новые технологии
  • Оптроника для безопасности
  • Моделирование
  • Обработка сигналов и изображений

На симпозиуме OPTRO 2012 ВТЦ «Баспик» был единственной организацией, представляющей Россию. Специалисты компании представили доклад по теме «Estimation of microchannel plate noise figure by gain variation of output pulse height distribution» («Оценка фактора шума микроканальных пластин МКП по коэффициенту вариации амплитудного распределения выходного сигнала»).

Пожалуйста, оцените статью:
Ваша оценка: None Средняя: 5 (1 vote)
Источник(и):

rusnanonet