В Новосибирском Академгородке пройдет 4-я школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы»

-->

C 25 по 29 апреля 2011 г. в Новосибирском Академгородке пройдет 4-я школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы». Школа проводится Российской корпорацией нанотехнологий (РОСНАНО), Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии и Сибирским отделением РАН с целью повышения квалификации специалистов компаний наноиндустрии, центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий в области метрологического обеспечения производств, испытаний продукции наноиндустрии и стандартизации.

Участники школы прослушают лекции ведущих ученых по методам контроля технологических процессов получения и характеризации функциональных наноматериалов, специалистов по метрологии и стандартизации в данной области, а также смогут познакомить других участников с результатами своей работы по тематике школы в виде устных и стендовых докладов.

Работа школы пройдет в рамках последовательно действующих секций по направлениям:

  1. Измерительные и испытательные возможности национальной нанотехнологической сети. Потребности компаний наноиндустрии РФ в развитии ба-зы актуальных методик и стандартов.

Методы контроля технологических процессов получения и характеризации функциональных наномате-риалов:

  1. дисперсные наноматериалы (нанопорошки, нано-трубки, катализаторы, ансамбли нанообъектов и др.);
  2. объемные наноструктурные материалы (наноком-позиты, пористые наноматериалы, нанокерамика и др.);
  3. наноструктурированные покрытия;
  4. тонкие пленки (гетероструктуры, сенсоры, и др.).

Также в рамках школы будут представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей.

Получить более подробную информацию и зарегистрироваться для участия в школе можно на сайте http://conf.nsc.ru/nanomet-2011 .

Пожалуйста, оцените статью:
Пока нет голосов
Источник(и):

Информационная система Конференции