Вторая школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур»

.

Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий», совместно с Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии и Научным советом РАН по электронной микроскопии проведет с 28 по 30 мая 2009 г. в Черноголовке вторую школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур».

2-я Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур»

в период 28 – 30 мая 2009 г. в г.Черноголовке проведут 2-ую школу «Метрология и стандартизация в нано-технологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур».

Целью школы является повышение квалификации специалистов центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий, в том числе участников системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА», в области проведения и метрологического обеспечения испытаний продукции наноиндустрии. Основное внимание будет уделено измерениям пространственных характеристик наноматериалов и наноструктур.

Программа школы будет включать приглашенные тематические лекции по основным методическим подходам к исследованию наноструктурированных материалов раз-ных типов и обсуждение актуальных проблем нанометрологии.

• Также будут представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей.

Школа предварит XVI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2009), проходящий в Черноголовке 1–3 июня (http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/index.htm ).

Тематика школы:

• Использование различных методов электронной микроскопии для получения и анализа изображений образцов наноразмерных и наноструктурных объектов.
• Использование зондовой микроскопии для исследования наноструктурных объектов и материалов с нанометровым разрешением в различных режимах.
• Методики оптической интерференционной микроскопии.
• Методы рентгеновской дифракции для определения структурных характеристик различных фаз нанокристаллических материалов.
• Определение морфологии наноразмерных объектов с использованием методик малоуглового рентгеновского рассеяния, в том числе синхротронного излучения.
• Адсорбционные и корреляционные методы исследования нанопорошков и катализаторов.
• Примеры исследований наноматериалов разных типов

Черноголовка 28–30 мая 2009 г.

• С полным текстом информационного сообщения можно ознакомиться здесь:

http://www.rusnano.com/…ication.aspx?…