Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ)

-->

Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ)

Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ) это один из способов преодолеть предел диффракции. Свет не может пройти через отверстие меньше половины длины волны (около 200 нм для видимого света). Но на расстояниях, сравнимых с длиной волны свет может «заходить» за плоскоcть отверстия

integra_spectra0.jpg .

Новые направления в науке требуют новых методов исследования. Для получения наиболее полной информации об исследуемом образце необходим комплексный подход, объединяющий в себе возможности сразу нескольких измерительных методик.

Другими словами, если очень маленькое отверстие подвести очень близко к поверхности, свет сможет провзаимодействовать с веществом (рассеяться, отразиться, вызвать флуоресценцию). Поэтому людьми придуманы разные варианты устройств, позволяю их подводить свет к таким «очень маленьким» отверстиям (реальный диаметр отверстия 50–100 нм) и подводить сами такие «источники» света очень близко к поверхности.

  • Практически все из известных схем СБОМ реализованы в приборе ИНТЕГРА Спектра (производства НТ-МДТ). НаноЛаборатория ИНТЕГРА Спектра — это первая в мире интеграция атомного-силового микроскопа (АСМ) с конфокальной КР /флуоресцентной микроскопией и спектроскопией.

Используются такие приборы для исследования оптических свойств поверхности с разрешением до 30 нм. Например, в производстве наноразмерных оптических устройств, фундаментальных исследованиях фотоники и плазмоники, а также для разработки технологий альтернативной энергетики (высокоэффективные фотопреобразователи).

integra_spectra.jpg Интегра Спектра

В том же приборе есть возможность соединить АСМ и спектроскопию комбинационного рассеяния (КР). Кроме простого соединения методов, прибор позволяет реализовать режим гигантского усиления сигнала КР (TERS – tip-enhanced Raman scattering). Этот режим дает возможность делать спектроскопию (которая по логике ограничена диффракцией) с разрешением до 14 нм!

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ)

spectra_sbom1.jpg

Волокно со структурой фотонного кристалла

scanner1.jpg
  1. СЭМ изображение сечения оптоволокна демонстрирует структуру фотонного кристалла в ядре волокна. б) Наложение изображений рельефа поверхности (красная палитра) и интенсивности света (зеленая палитра), по лученных СБОМ методом сбора излучения с сечения волокна

Подложки для SERS – золотая структура в форме «алмаза» на кварце

scanner2.jpg
  1. АСМ изображение рельефа и б) изображение, полученное СБОМ методом пропускания. Периодичность структуры: 200 нм. Разрешение СБОМ изображения: около 50 нм.

Полимеры

scanner3.jpg

Изображение полимера с гранулярной структурой, полученное с применением СБОМ в режиме «на отражение». Расстояние между двумя гранулами около 40 нм (увеличенный фрагмент), что иллюстрирует отличное пространственное разрешение метода.

Биологические объекты

scanner4.jpg

СБОМ изображение митохондрий, окрашенных ФИТЦ-мечеными антителами

На этой странице есть статьи, в основном про TERS

Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) (Optical Imaging and Spectroscopy on the Nanometer Scale)

http://webattach.mail.yandex.net/…M_digest.pdf?…



nikst аватар

Новые направления в науке требуют новых методов исследования. Для получения наиболее полной информации об исследуемом образце необходим комплексный подход, объединяющий в себе возможности сразу нескольких измерительных методик.

  • Сканирующая ближнепольно-оптическая микроскопия (СБОМ) это один из способов преодолеть предел диффракции. Свет не может пройти через отверстие меньше половины длины волны (около 200 нм для видимого света). Но на расстояниях, сравнимых с длиной волны свет может «заходить» за плоскоcть отверстия.

Хорошее это дело… Наши поздравления и новых достижений!..