Метрология измерения размеров в нанометровом диапазоне и первые российские стандарты для нанотехнологий (Форум, второй день, 4 декабря)
На Международном форуме по нанотехнологиям в секционном заседании по теме «Нанодиагностика» программы начно-технических секций прозвучал доклад, разработанный д.ф.-м.н. В.П. Гавриленко, Ю.А. Новиковым, А.В. Раковым, П.А. Тодуа (ОАО «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»).
После прочтения доклада, прошла живая дискуссия под руководством Ковальчука. Предлагаем вашему вниманию аудио-версию данного выступления mietrologhiia.mp3

- Войдите на сайт для отправки комментариев