Атомно-силовой микроскоп (АСМ)

-->

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) (англ. – Atomic Force Microscope – AFM) – сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, основанный на взаимодействии иглы кантилевера (зонда) с поверхностью исследуемого образца. Обычно под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Но при использованиии специальных кантилеверов можно изучать электрические и магнитные свойства поверхности.

16_270.jpgПринцип действия АСМ

В отличие от сканирующего туннельного микроскопа (СТМ), может исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности даже через слой жидкости, что позволяет работать с органическими молекулами (ДНК). Пространственное разрешение атомно-силового микроскопа зависит от размера кантилевера и кривизны его острия. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали.

Оптический и электронный микроскоп дают лишь плоскую картинку, в то время как СТМ позволяет увидеть трехмерную структуру микромира.