Ученые Сколтеха в сотрудничестве с российскими и финскими коллегами нашли новый, бесконтактный способ измерения толщины пленок однослойных углеродных нанотрубок, имеющий перспективы применения в самых разных областях – от солнечной энергетики до умной ткани.

Результаты исследования опубликованы в журнале Applied Physics Letters.

Однослойная углеродная нанотрубка (ОУНТ) представляет собой свернутый в трубку лист графита толщиной в один атом. ОУНТ — одна из аллотропных форм углерода наряду с фуллеренами, графеном, алмазом и графитом. Однослойные углеродные нанотрубки имеют широкие перспективы промышленного применения в самых разных областях, от солнечных батарей и светодиодов до сверхбыстрых лазеров, прозрачных электродов и умной ткани. Однако многие приложения требуют довольно точных измерений толщины пленки и ее оптических свойств.

«Для целого ряда применений большое значение имеет толщина пленки, определяющая количество света, которое она может пропускать в видимом спектральном диапазоне, то есть чем выше прозрачность пленки, тем меньше ее толщина. Кроме того, точность контроля толщины пленки и ее оптических постоянных имеет крайне важное значение при создании эффективных прозрачных электродов. Например, в случае солнечных батарей знать толщину пленки необходимо для того, чтобы улучшить антиотражающие свойства поверхности прозрачного слоя из ОУНТ. Для оценки и последующего использования механических свойств пленок ОУНТ необходимо сначала знать их геометрические размеры», – рассказывает руководитель Лаборатории наноматериалов Центра фотоники и квантовых материалов Сколтеха профессор Альберт Насибулин.

Сейчас для измерения оптических свойств используются методы абсорбционной спектроскопии и спектроскопии характеристических потерь энергии электронами, а для определения геометрических параметров – методы просвечивающей электронной микроскопии, сканирующей электронной микроскопии или атомно-силовой микроскопии. Все эти методы очень трудоемки и требуют дорогостоящего оборудования и специальной подготовки образцов, что может повлиять на измеряемые свойства пленок ОУНТ.

Группе исследователей во главе с профессором Сколтеха и Университета Аалто Альбертом Насибулиным удалось разработать быстрый, универсальный, бесконтактный метод точной оценки толщины пленок ОУНТ и их диэлектрических функций.