В своей статье Д. В. Щеглов и другие представили анализ современных литографических методов создания мер нанометрового диапазона размеров и основные лимитирующие факторы применения таких мер. Показали перспективность создания высокоточных мер на основе атомно-структурированной кристаллической поверхности, параметры которых привязаны к кристаллографическим параметрам кристалла.

Также в номере опубликована статья В. Г. Пущина, где рассматриваются основные методические подходы к определению и визуализации наноструктурных состояний в компактных объемных и тонкомерных или порошковых материалах. Обсуждается классификация наноструктурных и нанофазных материалов. Описаны основные методы структурных исследований наноматериалов, в том числе прямых электронно-микроскопических исследований. Анализируются общие закономерности и специфические особенности структурной и фазовой нанодиагностики, описаны основные измеряемые фазовые и структурно-морфологические параметры и характеристики анализируемых материалов, их типичные погрешности и способы представления.

Образование нитеподобных филаментных структур из наночастиц золота и серебра было изучено в пористых стеклах Vycor и полимерных материалах типа сшитого олигоуретанметакрилата, легированных соответствующими органическими и неорганическими прекурсорами этих металлов, под воздействием непрерывного лазерного излучения видимого диапазона длин волн мощностью 5–100 мВт. Результаты проведенной работы представлены в статье А. О. Рыбалтовского с соавторами.

Скачать деловой блок и содержание № 7–8 журнала «Российские нанотехнологии» можно здесь. В открытом доступе архив «Российских нанотехнологий» за 2006–2010 годы.