Характеристики микрочипов можно улучшить «отсечением»

Американские исследователи из Университета Райса совместно с коллегами из Швейцарии и Сингапура разработали оригинальный способ повышения производительности и энергетической эффективности микрочипов.

Учёные под руководством профессора Кришны Палема предлагают улучшить характеристики чипов путём «отсечения» редко использующихся элементов интегральных схем. Идея заключается в том, чтобы позволить процессорам совершать ошибки. Исследователи поясняют, что, тщательно рассчитав вероятность ошибок и ограничив типы операций, при выполнении которых они допустимы, можно одновременно снизить потребление энергии и поднять производительность.

Для демонстрации возможностей технологии был создан экспериментальный чип, у которого на одной кремниевой подложке расположены обычные и «усечённые» электронные цепи. Тестирование показало, что последние обеспечивают двукратный выигрыш в быстродействии, энергопотреблении и занимают вдвое меньше места по сравнению с традиционными цепями.

Следующая цель исследователей — воспользовавшись новой методикой, получить прототип микрочипа для конкретной области применения. Работы над таким изделием планируется начать нынешним летом.

Не исключено, что в перспективе предложенная технология поможет в создании портативных устройств с увеличенным временем автономной работы.

Пожалуйста, оцените статью:
Ваша оценка: None Средняя: 4.2 (5 votes)
Источник(и):

1. Университет Райса

2. compulenta.ru