16–18 ноября 2010 года в НИТУ «МИСиС» прошла Всероссийская научная школа для молодежи «Метрологическое обеспечение и оценка соответствия нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии».

В рамках научной школы были рассмотрены вопросы применения современных спектроскопических методов анализа материалов (электронная оже-спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, вторичная ионная масс-спетрометрия, просвечивающая электронная микроскопия, сканирующая ионная микроскопия). Данные методы позволяют исследовать элементный, химический состав, атомную структуру, структурное совершенство поверхностей твердых тел, приповерхностных слоев, межфазных границ и наноструктур.

Семинары, лабораторные работы и практические занятия были направлены на решение практических задач, связанных с использованием технических средств (компьютеров, спектроскопических и зондовых установок). Цель занятий состояла в формулировании новых исследовательских задач в области диагностики продукции наноиндустрии и нанотехнологий. Участники школы научились использовать методы компьютерного моделирования спектральных характеристик исследуемых образцов и универсальных пакетов прикладных программ для обработки, хранения, представления и передачи информации.

Информационная поддержка мероприятия осуществлялась с использованием интернет-ресурса магистерской программы «Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции нанотехнологий и наноиндустрии», реализованной НИТУ «МИСиС» и МФТИ.

С подробной информацией об итогах проведения школы можно ознакомиться на сайте www.workshop-misis.ru.