Вторая школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии

Вторая школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур»

.

Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий», совместно с Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии и Научным советом РАН по электронной микроскопии проведет с 28 по 30 мая 2009 г. в Черноголовке вторую школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур».


2-я Школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур»

в период 28 – 30 мая 2009 г. в г.Черноголовке проведут 2-ую школу «Метрология и стандартизация в нано-технологиях и наноиндустрии. Пространственные характеристики наноматериалов и наноструктур».

Целью школы является повышение квалификации специалистов центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий, в том числе участников системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА», в области проведения и метрологического обеспечения испытаний продукции наноиндустрии. Основное внимание будет уделено измерениям пространственных характеристик наноматериалов и наноструктур.

Программа школы будет включать приглашенные тематические лекции по основным методическим подходам к исследованию наноструктурированных материалов раз-ных типов и обсуждение актуальных проблем нанометрологии.

  • Также будут представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей.

Школа предварит XVI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-2009), проходящий в Черноголовке 1–3 июня (http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/index.htm ).

Тематика школы:

  • Использование различных методов электронной микроскопии для получения и анализа изображений образцов наноразмерных и наноструктурных объектов.
  • Использование зондовой микроскопии для исследования наноструктурных объектов и материалов с нанометровым разрешением в различных режимах.
  • Методики оптической интерференционной микроскопии.
  • Методы рентгеновской дифракции для определения структурных характеристик различных фаз нанокристаллических материалов.
  • Определение морфологии наноразмерных объектов с использованием методик малоуглового рентгеновского рассеяния, в том числе синхротронного излучения.
  • Адсорбционные и корреляционные методы исследования нанопорошков и катализаторов.
  • Примеры исследований наноматериалов разных типов

Черноголовка 28–30 мая 2009 г.

  • С полным текстом информационного сообщения можно ознакомиться здесь:

http://www.rusnano.com/…ication.aspx?…



nikst аватар
Anonymous аватар

Как это «проходила в Москве»? А д. Петрово??

nikst аватар

РОСНАНО примет участие во Всероссийском симпозиуме метрологов и выставке «Метрология-2009»

РОСНАНО примет участие во Всероссийском симпозиуме метрологов и 5-ой Специализированной выставке-конкурсе средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2009». Мероприятия, приуроченные к Международному Дню метрологии, пройдут во Всероссийском Выставочном Центре 19–21 мая.

Корпорация будет представлена на выставке собственной экспозицией, на которой будет размещена информация о деятельности Корпорации, содержании и формах работы по обеспечению единства измерений, стандартизации и сертификации. В экспозиции Корпорации будут представлены образцы приборов и устройств для измерений в нанометровом диапазоне, а также перспективные средства измерений и измерительное оборудование, созданные с применением нанотехнологий. На пленарном заседании Всероссийского симпозиума метрологов запланирован доклад на тему: «Система стандартизации, сертификации и метрологического обеспечения в РОСНАНО».

  • Корпорация рассматривает развитие измерений как одну из приоритетных задач для производства и контроля параметров современной конкурентоспособной продукции в сфере наноиндустрии. Для решения этой задачи предпринимаются конкретные шаги, одним из которых стала регистрация системы добровольной сертификации «Наносертифика» 28 мая 2008 г.

http://www.rusnano.com/…ication.aspx?…